理学公司研发的NEX DE VS能量色散X射线荧光元素分析仪具有集成摄像机和可变小光斑分析的特点，用于固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析。

Rigaku理学NEX DE VS 是一款高性能小（可变）点台式 EDXRF 元素分析仪，它使用基于 Windows® 的易学 QuantEZ 软件，可提供广泛的元素覆盖范围。可对几乎任何基质（从固体、薄膜和合金到粉末、液体、浆料和薄膜）进行从钠 (Na) 到铀 (U)的元素分析。

NEX DE VS 能量色散X射线荧光光谱仪以其分析能力、灵活性和易用性，广泛运用在勘探、研究、RoHS 检查和教育，以及工业和生产监测应用，是专门为重型工业应用设计和加工，无论是在车间还是在远程现场环境中的X射线荧光元素分析仪。

无论需要的是基本质量控制 (QC) 还是更复杂的变化形式 — 例如分析质量控制 (AQC)、质量保证 (QA) 或六西格玛之类的统计学过程控制 — 理学能量色散X射线荧光光谱仪都是常规元素分析的可靠选择。

产品特色

硅漂移探测器技术

硅漂移探测器 (SDD) 兼具极高的计数率功能以及出色的光谱分辨率。这使得 NEX DE VS 能够在可达到的最短测量时间内获得精度最高的分析结果。SDD 独有的工程特性是通过一系列环形电极产生的横场，它可强制载荷子“漂移”到小集电极。新一代 SDD 探测器的场效应晶体管 (FET) 从辐射轨迹中移出，代表着传统 EDXRF 探测器技术的发展水平。

X 射线管保护

仅在数据采集期间运行，从而最大限度地减少 X 射线管磨损和损耗

60 kV，12 W X 射线管

紧密耦合的银阳极端窗 X 射线管。  低电压下的高发射电流可获得出色的光学元件性能。

数字数据输出

利用 RS-232C 或TCP/IP 支持数据导出和  LIMS 兼容性。

免工具安全膜

更换保护光学内核的安全膜时无需工具。

工作原理

在 X 射线荧光 (XRF) 中，电子可在吸收 X 射线管发出的 X 射线（光子）后从其原子轨道射出。当内层轨道电子射 出后（中图），更高能量的电子转移以填充该空位。在此跃迁过程中，可能会发射出特征光子，它是每种原子 类型独有的能量。单位时间的特征光子数量（每秒计数，cps）与样品中的元素数量成正比。因此，确定样品光谱中的  X 射线峰的能量并测量其相关计数率即可实现定性和定量元素分析。

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